• Medición fiable y repetible de las características dinámicas de los semiconductores de potencia de banda ancha (SiC, GaN) para dispositivos discretos y módulos de potencia.
• Las características medidas incluyen encendido, apagado, conmutación, recuperación inversa, carga de la puerta y muchos otros.
• Probe de aislamiento de pulso verdadero para medir el dispositivo de lado alto de un módulo de energía.
• Tecnología de contacto sin soldadura para resultados repetibles y confiables sin soldadura.
• Entorno de ensayo seguro para el DUT y el usuario.
• La plataforma modular, personalizable, expandible, actualizable, permite probar todos los dispositivos de energía.

Como solución de medición disponible, el PD1550A ofrece mediciones fiables y repetibles de módulos de potencia de semiconductores de banda ancha.La plataforma garantiza la seguridad del usuario y la protección del hardware de medición del sistemaLa capacidad de garantizar resultados de prueba de doble pulso (DPT) repetibles y confiables se basa en los más de 80 años de experiencia de Keysight en ciencia de medición.Con la experiencia adquirida a través del trabajo en estrecha colaboración con los clientes y las organizaciones de normalización con el PD1500A, Keysight está ayudando ahora a los clientes a superar los desafíos de la caracterización dinámica de los módulos de potencia WBG.baja fuga (rango de femtoamperios)Como resultado, Keysight está en una posición única para ayudarle a superar los desafíos de la caracterización de semiconductores de potencia dinámica.

Incluido con el PD1550A están las técnicas de medición avanzadas estándar como la compensación de la sonda, el ajuste de desplazamiento, la desviación y el rechazo de ruido de modo común.Estas técnicas se utilizan dentro de una topología de medición innovadora y el diseñoSe desarrolló específicamente para este sistema una rutina de calibración semiautomática (AutoCal) que corrige los errores de ganancia y compensación del sistema.El sistema también utiliza técnicas de desincorporación para compensar los parásitos inductivos en la derivación actualLa tecnología True Pulse Isolate Probe para mediciones exactas de Vgs de lado alto y la tecnología de contacto sin soldadura permiten mediciones fiables repetibles sin tener que soldar grandes almohadillas de contacto.

El Consejo Conjunto de Ingeniería de Dispositivos Electrónicos (JEDEC) es el líder mundial en el desarrollo de estándares y publicaciones abiertos para la industria de la microelectrónica.Los comités de JEDEC son líderes en la industria en el desarrollo de estándares para una amplia gama de tecnologías.

Comité JEDEC: JC-70 Semiconductores de conversión electrónica de potencia de banda ancha
Los estándares JEDEC reconocieron la necesidad de proporcionar estándares WBG para la industria de semiconductores de potencia.el JC70 Wide Bandgap Power Electronic Conversion Semiconductor committee fue formado para ambos GaN JC70.1 y SiC JC-70.2 Cada sección tiene tres grupos de trabajo, centrados en los procedimientos de fiabilidad y calificación, elementos y parámetros de las hojas de datos y métodos de ensayo y caracterización.

Keysight participa activamente en el desarrollo de estas normas.

A medida que JEDEC continúa definiendo las pruebas dinámicas de los dispositivos WBG, algunas pruebas estandarizadas están comenzando a surgir.

• Características de encendido
• Características de apagado
• Resistencia de encendido dinámica
• Corriente y voltaje dinámicos
• Características de cambio