• Medición fiable y repetible de las características dinámicas de los semiconductores de potencia de banda ancha (SiC, GaN).
• Las características medidas incluyen encendido, apagado, conmutación, recuperación inversa, carga de la puerta y muchos otros.
• Entorno de ensayo de SAT tanto para el DUT como para el usuario.
• La plataforma modular expandible y actualizable permite probar todos los dispositivos de potencia.

Como solución de medición disponible, el PD1500A ofrece mediciones fiables y repetibles de semiconductores de banda ancha.La plataforma garantiza la seguridad del usuario y la protección del hardware de medición del sistema.

La capacidad de garantizar resultados de DPT repetibles se basa en la experiencia de Keysight en la ciencia de la medición.baja fuga (rango de femtoamperios)Como resultado, Keysight está en una posición única para ayudarle a superar los desafíos de la caracterización de semiconductores de potencia dinámica.

El PD1500A incluye técnicas de medición estándar como la compensación de la sonda, el ajuste de desplazamiento, la desviación y el rechazo del ruido del modo común.Estas técnicas se utilizan dentro de una topología de medición innovadora y el diseñoSe ha desarrollado específicamente para este sistema una rutina de calibración semiautomática (AutoCal) que corrige los errores de ganancia y compensación del sistema.El sistema también utiliza técnicas de desincorporación para compensar los parásitos inductivos en la derivación actual.

JEDEC es el líder mundial en el desarrollo de estándares abiertos y publicaciones para la industria de la microelectrónica.Los comités de JEDEC son líderes en la industria en el desarrollo de estándares para una amplia gama de tecnologías.

Comité JEDEC: JC-70 Semiconductores de conversión electrónica de potencia de banda ancha
Los estándares JEDEC reconocieron la necesidad de proporcionar estándares WBG para la industria de semiconductores de potencia.el JC70 Wide Bandgap Power Electronic Conversion Semiconductor committee fue formado para ambos GaN JC70.1 y SiC JC-70.2 Cada sección tiene tres grupos de trabajo, centrados en los procedimientos de fiabilidad y calificación, elementos y parámetros de las hojas de datos y métodos de ensayo y caracterización.

Keysight participa activamente en el desarrollo de estas normas.

A medida que JEDEC continúa definiendo las pruebas dinámicas de los dispositivos WBG, algunas pruebas estandarizadas están comenzando a surgir.

• Características de encendido
• Características de apagado
• Resistencia de encendido dinámica
• Corriente y voltaje dinámicos
• Características de cambio
• Recuperación inversa
• Cargo por puerta
• Características de salida derivadas